Séminaire nouvelles technologies

Werth France en partenariat avec Precitec organise une journée de séminaire technique.

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Le thème : Métrologie sans contact et tomographie.
Conférence technique et ateliers pratiques  :
CT rayon X – Analyse d’image – Capteur confocal – Laser – Mircro palpeur.

Jeudi 12 mars à l’ENSMM
26 rue de l’Épitaphe – 25030 Besançon

Inscription gratuite pour 1 à 3 personnes de la même entreprise.

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